基础练习 BASIC-23 芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

样例输出

     1 3

import java.util.Scanner;

public class Main{
public static void main(String[] args) {
Scanner input = new Scanner(System.in);
int n = input.nextInt();

int [] count = new int
;
int [][] arr = new int

;

for (int i=0; i<arr.length;i++){
for (int j=0; j<arr[i].length; j++){
arr[i][j] = input.nextInt();
if (arr[i][j] == 1){
count[j]++;
}
}
}

for (int i=0; i<n; i++){
if (count[i]>(n/2)){
System.out.print(i+1+" ");
}
}
}
}