BASIC-23 VIP试题 芯片测试

/*

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

样例输出

1 3

*/

#include<stdio.h>

void shuchu(int [][20],int );

int main(void)

{

    int i,n,j;

    scanf("%d",&n);

    int a[20][20];

    for( i = 0 ; i < n ; i ++)

    {

        for( j = 0 ; j < n ;j ++)

        {

            scanf("%d",&a[i][j]);            

        }

    }

    shuchu( a , n) ;

    return 0;

}

void shuchu(int a[20][20],int n)

{

    int s , t , i ,j;  

    for (i = 0; i < n; i ++)

    {

        s = 0;  //huai xinpian   0 0

        for (j = 0; j < n; j++)//qu huai xinpian

        {

            s += a[j][i] ;     

        }

        if (s > n/2)

        {

            printf("%d ", i+1);

        }

    }

}