蓝桥杯 基础练习 芯片测试

基础练习 芯片测试
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问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3

1 0 1

0 1 0

1 0 1
样例输出
1 3
解题思路：以列为单位，统计每个芯片被其它芯片（不包括自己本身）判断为好的次数，若超过一半则认为此芯片为好芯片。

C：

#include<stdio.h>

int main()

{

intn,i,j;

scanf("%d",&n);

inta[20][20],count[20];

for(i=0;i<n;i++)

{

count[i]=1;

for(j=0;j<n;j++)

scanf("%d",&a[i][j]);

}

for(j=0;j<n;j++)

{

for(i=0;i<n;i++)

{

if((i!=j)&&(a[i][j]==1))

count[j]++;

}

if((count[j]>(n/2))&&(j!=(n-1)))

printf("%d",(j+1));

elseif((count[j]>(n/2))&&(j==(n-1)))

printf("%d\n",n);

}

return0;

}