基础练习 芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

样例输出

1 3

重点内容

因为好的比坏的多，所以，只要被测试的得到的结果好的大于一半则是好的。主要是统计的规律

#include<stdio.h>
#include<string.h>
#define MAX 20
int main(){
int n,a[MAX][MAX],p;
int i,j;
scanf("%d",&n);
for(i=0;i<n;i++){
for(j=0;j<n;j++){
scanf("%d",&a[i][j]);
}
}
for(i=0;i<n;i++){
p=0;
for(j=0;j<n;j++){
if(a[j][i]==1){
p++;
}
}
if(p>n/2)
printf("%d ",i+1);

}

return 0;
}