关于IEEE 754浮点数表示的实验

遇到浮点数的问题，将浮点数表示法总结一下：

实验平台 ：Fedora9 + VMWare虚拟机，x86平台

实验代码：

#include <stdio.h>

int main()

{
int i = 0;
double d = 0.5;
float f = 0.5;
unsigned char *pucdata = NULL;
pucdata = (unsigned char*)&d;
for (i = 0; i < 8; i ++)
{
printf("%02x ", pucdata[i]);
}
printf("\n");
pucdata = (unsigned char*)&f;
for (i = 0; i < 8; i ++)
{
printf("%02x ", pucdata[i]);
}
printf("\n");

}126

实验结果：

00 00 00 00 00 00 e0 3f 

00 00 00 3f 00 00 00 00 

0.5的双精度表示为 3f e0 00 00 00 00 00 00 ，s为0，E为1022，M为1+0=1;

0.5的单精度表示为 3f 00 00 00， s为0， E为126，M为1+0=1.

实验结论：1、gcc编译器表示的浮点数使用的是规格化的浮点数。

                    2、双精度公式为（-1）ˇS×（1.M)×2ˇ(E-1023) 单精度为（-1）ˇS×（1.M)×2ˇ(E-127)。

                    3、附单双精度表示法的表示方法

双精度表示法：

1	11	52　位长
S	Exp（E）	Fraction(M)
63	62至52 偏正值（实际的指数大小+1023）	1+51至0　位编号（从右边开始为0）

 单精度表示法：

       

1	8	23 位长
S	Exp（E）	Fraction(M)
32	偏正值（实际的指数大小+127）	1+22至0　位编号（从右边开始为0）