[Other]计算机组成原理分解实验:实验一 基本逻辑门逻辑实验
2012-12-15 01:57
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实验一 基本逻辑门逻辑实验
一、 实验目的1. 掌握TTL与非门、与或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。
2. 熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。
二、 实验所用器件和仪表
1. 二输入四异或门 74LS86 1片
2. 三态输出四总线缓冲门74LS125 1片
3. 四位二进制计数器 74LS161 1片
4. 3-8译码器 74LS138 1片
三、 实验内容
测试74LS86、125、138、161集成电路模块,分析其输入和输出之间的逻辑关系。
四、 实验提示
1.将被测器件插入实验台上相应的插座中。
2.将器件的gnd(地)与实验台的“地(GND)”连接,将器件的vcc(高电平)与实验台的+5V连接。
3.用实验台的电平开关输出作为被测器件的输入。拨动开关,则改变器件的输入电平。
4.将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯连接。指示灯亮表示输出电平为1,指示灯灭表示输出电平为0。
五:实验接线图及实验结果
第一部分:二输入四异或门 74LS86逻辑关系接线图及测试结果
1.异或逻辑图:
2.逻辑关系接线图:
3.实验结果:L=Low即低电平输入,H=High即高电平输出。
第二部分:三态输出四总线缓冲门74LS125逻辑关系接线图及测试结果
1.芯片特性:
2.测试74LS86逻辑关系接线图:
3.实验结果:L=Low即低电平输入,H=High即高电平输出。
第三部分:四位二进制计数器74LS161逻辑关系接线图及测试结果
1.测试74LS86逻辑关系接线图:
2.实验结果:
第四部分:3-8译码器74LS138逻辑关系接线图及测试结果
1.测试74LS138逻辑关系接线图:
2.实验结果:K3,K4低电平,K5高电平,进行输入。
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