半导体后段测试程序自动化（1）

　　

　　最近在给上海的一个客户实施MES系统，里面涉及到一个测试程序的自动化模块，在实施过程中遇到了很多问题，主要就是如何将信息在工厂现有的IT系统和产线内部系统进行传输。

　　在半导体后端封装测试中有一个过程称为Final Test，所谓的Final Test就是对IC做一下电气化的测试，根据测试结果把IC分为合格品，次品类别1，次品类别2等。 因为IC的客户来源不同，种类繁多及测试方向不同，所以需要选择不同的测试配方来进行测试，PTE产品测试工程师（或客户）事先根据要求来实现这些测试配方 产线里面的Operator就要根据customer，device，lotid等参数来选择这些配方进行测试。 由于这是人工选择的过程，必然就有误操作的产生，于是测试配方选择自动化就因此而生。

　　不同的测试设备厂商（如Quartet， Eagle等）提供不同的测试系统来进行FT test，它们有着不同的界面来让Operator来输入一些必要的参数，这给自动化带来了极大的麻烦。FT Test所需要的参数如 Interal Lot ID, Customer Lot ID, Device Number等都可以从工厂内部自己的MES系统获得，但如何将这些数据传给产线里面的各种异构化的系统呢？