这样的需求如何设计测试用例

测试点：<br /> 1.DB查询A标志位成功清除<br /> 2.DB查询A标志位清除后，不会影响到B、C、D、E、F、G标志位<br />逻辑：<br /> 手动下架商品，可以清除A标志位;商品卖完自动下架，也可以清除A标志位<br />实现方式：<br /> 某数据表的W字段用来标识商品的(A、B、C、D、E、F、G)标志位;W字段的值(是十进制）转换成16进制后，可分辨出商品的(A、B、C、D、E、F、G)标志位是否存在;每个非A标志位都可以和A标志位同时存在，所有标志位不能同时存在，但多个标志位可随意组合。<br /> A标志位：1000000<br /> B标志位：0100000<br /> C标志位：0020000<br /> D标志位：0004000<br /> E标志位：0000500<br /> F标志位：0000020<br /> G标志位：0000001<br /><br /> 举例：<br /> TT商品的W字段值为268435489，转换成十六进制为10000021，表示此商品有A、F、G标志<br /> 该商品下架后，W字段值为33，转换成十六进制为21，表示此商品有F、G标志<br /><br /><br /><br />希望跟大家一起讨论下这样情况下，如何设计出覆盖率更高的用例，且无冗余