试题 基础练习 芯片测试

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问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出
1 3

要点

本题要点：题目中说：已知好芯片比坏芯片多。
统计矩阵的每一列1的个数，也就是每个芯片被测试为好的次数（包括自己）
如果某芯片被测试为好的次数小于被测试为坏的次数，
如果该芯片为好的，则表示将它测试为坏的那些芯片其实都是坏的
这样坏芯片就比好芯片多，不符合题意

本题代码

import java.util.Scanner;

public class ChipTest {
public static void main(String[] args) {
Scanner sc = new Scanner(System.in);
int n = sc.nextInt();
int[][] matrix = new int[n][n];
for (int i = 0; i < n; i++) {
for (int j = 0; j < n; j++) {
matrix[i][j] = sc.nextInt();
}
}
sc.close();

// 本题要点：题目中说：已知好芯片比坏芯片多。
// 统计矩阵的每一列1的个数，也就是每个芯片被测试为好的次数（包括自己）
// 如果某芯片被测试为好的次数小于被测试为坏的次数，
// 如果该芯片为好的，则表示将它测试为坏的那些芯片其实都是坏的
// 这样坏芯片就比好芯片多，不符合题意
int[] col = new int[n];
for (int i = 0; i < n; i++) {
int tmp = 0;
for (int j = 0; j < n; j++) {
if (matrix[j][i] == 1) {
tmp++;
}
}
col[i] = tmp;
}

for (int i = 0; i < n; i++) {
if (col[i] > n - col[i]) { // 如果某芯片被测试为好的次数大于被测试为坏的次数，则表示该芯片是好的
System.out.print(i + 1 + " "); // 输出结果
}
}
}
}